ЦКП "Центр физических и физико-химических методов анализа, исследования свойств и характеристик поверхности, наноструктур, материалов и изделий" УдмФИЦ УрО РАН (краткое наименование - "Поверхность и новые материалы") организован в 2003 году на базе научных подразделений ФТИ УрО РАН, реорганизован в 2018 году. ЦКП осуществляет свою деятельность в соответствии с Уставом УдмФИЦ УрО РАН и Положением о центре коллективного пользования.

Поддержан Министерством науки и высшего образования РФ в рамках ФЦП "Исследования и разработки по приоритетным направлениям развития научно-технологического комплекса России на 2014-2020 годы", уникальный идентификатор проекта - RFMEFI62119X0035.
Реестровый номер на федеральном портале ЦКП и УНУ - 3298.

Адрес в интернете: http://fti.udm.ru.

Базовая организация: ФБГУН Федеральный исследовательский центр УрО РАН.
Почтовый адрес: 426067 г. Ижевск, ул. им Татьяны Барамзиной, 34.
тел.: (3412) 508200, 430163, факс: (3412) 507959.
e-mail: Этот e-mail защищен от спам-ботов. Для его просмотра в вашем браузере должна быть включена поддержка Java-script .

Директор базовой организации (УдмФИЦ УрО РАН): Альес Михаил Юрьевич, д.ф.-м.н., профессор.
Руководитель ЦКП: Валеев Ришат Галеевич, к.ф.-м.н.
Ученый секретарь ЦКП, контактное лицо: Гильмутдинов Фаат Залалутдинович, к.ф.-м.н.

Контакты:
(3412) 508200, Этот e-mail защищен от спам-ботов. Для его просмотра в вашем браузере должна быть включена поддержка Java-script - руководитель базовой организации,
(3412) 430163,  Этот e-mail защищен от спам-ботов. Для его просмотра в вашем браузере должна быть включена поддержка Java-script ,  Этот e-mail защищен от спам-ботов. Для его просмотра в вашем браузере должна быть включена поддержка Java-script  - руководитель ЦКП,
(3412) 430163, Этот e-mail защищен от спам-ботов. Для его просмотра в вашем браузере должна быть включена поддержка Java-script , Этот e-mail защищен от спам-ботов. Для его просмотра в вашем браузере должна быть включена поддержка Java-script - ученый секретарь ЦКП.

Ассоциированные партнеры ЦКП:
ООО "НПО "Защитные покрытия", г. Москва
ОАО "Элеконд", г. Сарапул
ФГБОУ ВО «Удмуртский государственный университет»

• Основные сведения о деятельности ЦКП в 2018 году, скачать.

 Стратегические документы Российской Федерации, на основании которых функционирует ЦКП:

• Федеральный закон №127-ФЗ от 23.08.1996 "О науке и государственной научно-технической политике".
• Федеральный закон №270-ФЗ от 13.06.2015 "О внесении изменений в Федеральный закон "О науке и государственной научно-технической политике"...".
• Постановление Правительства Российской Федерации №429 от 17.05.2016 г. "О требованиях к центрам коллективного пользования научным оборудованием и уникальным научным установкам, которые созданы и (или) функционирование которых обеспечивается с привлечением бюджетных средств, и правилах их функционирования».
• Приказ Минобрнауки России от 18.07.2016 N 871 "Об утверждении Типовых требований к содержанию и функционированию официальных сайтов центров коллективного пользования научным оборудованием и (или) уникальных научных установок, которые созданы и (или) функционирование которых обеспечивается с привлечением бюджетных средств, в информационно-телекоммуникационной сети "Интернет" и (или) их страниц на официальных сайтах научных организаций и (или) образовательных организаций, которыми созданы и (или) в которых функционируют такие центры и уникальные установки".

 Нормативные документы:

• Положение о ЦКП, скачать.
• Изменения в Положение о ЦКП, скачать.
• Приказ о создании ЦКП, скачать.
• Регламент доступа к оборудованию ЦКП, скачать.
• Перечень работ и услуг, скачать.
• Порядок выполнения работ, скачать.
• Типовой договор, скачать.
• Форма заявки, скачать.
• Программа развития на 2019-2023 годы, скачать.
• Перечень оборудования ЦКП, скачать.
• Расчет стоимости типовых услуг, скачать.
• Стоимость работы оборудования в 2019 году, скачать.
• План работы на 2019 год, скачать.
• Буклет с перечнем и описанием оборудования УдмФИЦ УрО РАН, скачать .

Задачи ЦКП:

• Выполнение фундаментальных и прикладных исследований УдмФИЦ УрО РАН, научных проектов различных программ, грантов, контрактов, хозяйственных договоров на основе эффективного использования научного оборудования и экспериментальных методик.
• Выполнения работ по заявкам научных организаций, подведомственных ФАНО, отраслевых институтов, высших учебных заведений, промышленных предприятий и организаций.
• Разработка и реализация новых экспериментальных методик на основе имеющегося в ЦКП оборудования.
• Оказание научно-методической и консультативной помощи сторонним организациям.
• Научно-образовательная деятельность, подготовка бакалавров и магистрантов в рамках образовательных программ высших учебных заведений, подготовку аспирантов в рамках образовательных программ аспирантуры, повышение квалификации научных работников, в том числе в рамках деятельности научно-образовательных центров.

ЦКП выполняет исследования в следующих областях:

• физика и химия наноматериалов;
• физика и химия поверхности и сверхтонких пленок;
• материаловедение, нанотехнологии;
• ионнолучевая и ионно-плазменная модификация материалов;
• физика магнитных явлений,
• механические испытания,
• технология и контроль качества производства.

На базе ЦКП осуществляется подготовка бакалавров, магистрантов и аспирантов в рамках образовательных программ, научно-образовательных центров, подготовка и повышение квалификации научных кадров и инженерно-технических работников.

 

Пользователи (сторонние организации) ЦКП в 2019 году:

•  ФГБУН Удмуртский федеральный исследовательский центр УрО РАН (ФТИ УрО РАН и ИМ УрО РАН - с 10.01.2018 - подразделения базовой организации).
•  ФГБУ «Российский фонд фундаментальных исследований»
•  Российский научный фонд
•  ФГБУН Институт общей и неорганической химии им. С.Н. Курнакова РАН.
•  ФГБУН Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН.
•  ФГБУН Институт электрофизики УрО РАН.
•  ФГБОУ ВО «Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова».
•  ФГБОУ ВО «Воронежский государственный университет».
•  ФГАОУ ВО «Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского» (НИФТИ)
•  ФГБОУ ВО «Южно-Российский государственный политехнический университет (НПИ) им. М.И. Платова»
•  ФГБОУ ВО «Удмуртский государственный университет».
•  ФГБОУ ВПО «Ижевский государственный технический университет им. М.Т. Калашникова».
•  ОАО «Ижевский электромеханический завод «Купол».
•  ОАО «Элеконд» (г. Сарапул).
•  АО «Ижевский радиозавод».
•  ОАО «Воткинский завод» (г. Воткинск).
•  ОАО «Сарапульский электрогенераторный завод» (г. Сарапул).
•  ООО «Фабрика новых материалов» (г. Москва).
•  ООО «Оксифилм» (г. Москва).

 

Перечень оборудования ЦКП
"Центр физических и физико-химических методов анализа, исследования свойств и характеристик поверхности, наноструктур, материалов и изделий" УдмФИЦ УрО РАН

№	Наименование единицы оборудования	Назначение и характеристики оборудования
1	Микроскоп электронный сканирующий Philips "SEM-515" с системой рентгеновского микроанализа EDAX "Genesis 200 XMS"	Предназначен для исследования топографии поверхности материалов, локального определения элементного состава, распределения элементов по поверхности объекта на микро- и наноуровне. Ускоряющее напряжение - 3-30 кВ. Разрешающая способность - 5 нм. Увеличение - 10 - 160 000 крат. Предел обнаружения - 0,2 масс.%. Точность определения концентрации - ~ 5%. Пространственное разрешение при микроанализе - 1,0×1,0×5,0 мкм.
2	Дифрактометр рентгеновский НПО "Буревестник" "ДРОН-6"	Предназначен для качественного и количественное определения фазового состава кристаллических твердых тел, определения типа кристаллической структуры, идентификация вещества по его кристаллическим характеристикам, определения дисперсности кристаллитов, блочного строения, установления степени совершенства кристаллической структуры, дефектности, определения макро- и микродеформаций в материале, исследования аморфных материалов с возможностью установления функции радиального распределения атомного окружения (ФРРА). Имеется пакет программ для обработки дифрактограмм поликристаллов (МИСиС). Метод съёмки - Брэгг-Брентано. Конфигурация - Θ-2Θ. Точность установки углов - 0,015°.
3	Оже - электронный спектрометр JEOL "JAMP-10S"	Предназначен для качественного и количественного анализа состава сверхтонких поверхностных слоев и межфазных границ, сверхтонких наноразмерных пленок, наноразмерных частиц, мультислоев. Позволяет проводить исследование топографии поверхности с развитой структурой на наноразмерном уровне в режиме растровой электронной микроскопии. Достигаемый рабочий вакуум - 10-7 Па. Электронная пушка с энергией электронов - до 10 кэВ Диаметр электронного зонда - 25 нм Энергетическое разрешение - (ΔЕ/Е) 0,35 Локальность анализа - 50 нм по поверхности и 1 - 5 нм по глубине слоя.
4	Рентгеноэлектронный спектрометр ЭЗАН "ЭС-2401"	Предназначен для проведения качественного и количественного анализа сверхтонких поверхностных слоев вещества и тонких пленок, исследование электронной структуры и химической связи, послойный анализ распределения элементов. Достигаемый рабочий вакуум - 10-8 Па Погрешность определения энергии связи - 0,1 эВ. Относительная погрешность количественного анализа с использованием оригинальных методик обработки и вычитания фона - не хуже ± 3 %. Диапазон анализируемых энергий связи электронов - (0 - 1500) эВ. Разрешение (ПШПВ Au4f7/2) - до 1,1 эВ (MgKα).
5	Сканирующий зондовый микроскоп NT-MDT "Solver-Pro"	Универсальный прибор для комплексных исследований различных объектов с высоким разрешением на воздухе, в жидкостях и контролируемой газовой атмосфере, при температуре до 150 С. Конструкция прибора гарантирует максимальную точность измерений и большое число СЗМ измерительных методик. Используется для нанотехнологических исследований в самых разных научных областях. Обеспечивает получение изображений поверхности микро- и нано- объектов с пространственным разрешением вплоть до атомарного. Размер образца - 40х40х10мм. Сканеры - 1х1х1мкм (±10%); 50х50х3мкм (±10%). Минимальный шаг сканирования - 0.0004 нм; 0.0011 нм; 0.006 нм. Способ сканирования - образцом.
6	Спектрометрический комплекс на базе монохроматора ОКБ "Спектр" "МДР-41" c монохроматором ЛМ	Предназначен для регистрации спектральных характеристик источников излучения, фотоприемников, для измерения спектров пропускания, зеркального и диффузного рассеяния, возбуждения и регистрации спектров люминесценции. Спектральный диапазон - от 200 до 2500 нм. Точность измерения - ≤ 0.2 нм.
7	Электронный спектрометр SPECS	Предназначен для изучения электронной структуры, химического состава и химических связей сверхтонких поверхностных слоев и тонких пленок, наноструктур, порошков с послойным анализом. Достигаемый рабочий вакуум - 5∙10-10 Па. Ширина на половине высоты РФЭС - пика Ag3d5/2 - до 0.82 эВ. Локальность РФЭС анализа по поверхности - от 5 мм до 100 мкм, Скорость счета - 12∙106 имп/с. Диаметр ионного пучка - от 125 мкм до 1 мм. Область сканирования ионным пучком - до 10 мм x 10 мм. Энергия ионов Ar+ при травлении поверхности - 0,2кэВ - 5кэВ.
8	Дифрактометр рентгеновский Rigaku "Miniflex 600"	Настольный рентгеновский дифрактометр предназначен для исследования строения поликристаллических и аморфных материалов. Позволяет проводить качественный и количественный анализ кристаллических фаз, определение размеров кристаллитов, анализ микронапряжений, определение параметров решеток, исследование атомного строения вещества. Метод съёмки - Брэгг-Брентано. Конфигурация - Θ-2Θ. Точность установки углов - 0,005°. Тип и мощность рентгеновской трубки - Cu, 600 Вт.
9	Спектрометр ядерного гамма-резонанса SM2201DR	Предназначен для исследования в традиционных схемах мессбауэровской гамма-оптики: пропускания, эмиссии и обратного рассеяния, позволяет проводить эксперименты по селективно-индуцированному двойному эффекту Мессбауэра и релеевскому рассеянию резонансного излучения. Диапазон скоростей - ± 20 мм/с. Закон изменения скорости - программный. Дифференциальная нелинейность - 0.08 %. Число каналов памяти - 100, 200, 400, 800. Емкость канала памяти - 2х1024 имп. Ширина линии стандартного нитропруссида натрия - 0.24 мм/с.
10	Сканирующий ICP спектрометр Spectro Analytical Instruments GmbH "Spectroflame Modula S"	Обеспечивает возможность высокоточного определения химического состава металлов, сплавов, воды, продуктов питания, промышленных изделий, почв и др. на содержание 76 элементов периодической таблицы Менделеева, включая тяжелые металлы. Объект исследования - образцы, которые можно перевести в раствор и застабилизировать в жидкой фазе. Характеристика образца - стружка, порошок массой до 2 г, жидкости объемом до 100 мл.
11	Комплект рентгеноэлектронного спектрометра ФТИ УрО РАН "ЭМС-3"	Предназначен для изучения электронной структуры и химического строения сверхтонких поверхностных слоев, релаксационных процессов в высокотемпературных расплавах. Относительное энергетическое разрешение спектрометра - 10-4. Светосила - 0.1%. Вакуум 10 -5 Торр. Чувствительность - до доли моноатомного слоя. Время определения концентрации элемента - от 10 сек. до доли сек. Рабочий диапазон температур - до 1500оС. Глубина анализируемого слоя - 3-5 нм.
12	Двухлучевой атомно-абсорбционный спектрофотометр Shimadzu "AA-7000"	Атомно-абсорбционный спектрометр высокого класса для пламенного и электротермического атомно-абсорбционного анализа, позволяющий проводить высокочувствительные анализы и отличающийся компактностью, гибкой конфигурацией, полной безопасностью в работе и удобным управлением. Атомизаторы - пламенный и/или электротермический. Спектральный диапазон - 185 - 900 нм. Монохроматор - Черны-Тернера, голографическая дифракционная решетка. Спектральная щель - 0.2; 0.7; 1.3; 2.0 нм. Наличие сенсора вибрации пламени. Гибкая автоматизированная обработка результатов. Спектрометры SHIMADZU имеют Государственный Метрологический Сертификат РФ. Прибор снабжен комплектом аттестованных методик анализа экологических объектов.
13	Дифрактометр Bruker ASX "D2 Phazer Theta"	Настольный рентгеновский дифрактометр предназначен для исследования строения поликристаллических и аморфных материалов. Позволяет проводить качественный и количественный анализ кристаллических фаз, определение размеров кристаллитов, анализ микронапряжений, определение параметров решеток, исследование атомного строения вещества. Метод съёмки - Брэгг-Брентано. Конфигурация - Θ-2Θ. Точность установки углов - 0,005°. Тип и мощность рентгеновской трубки - Cr, Co, Cu, 300 Вт. Лицензионный пакет программ DIFFRAC.EVA, лицензионные структурные базы данных PDF2 (2020 г.).
14	Рамановский спектрометр Horiba "Jobin Yvon HR 800"	Предназначен для идентификации твёрдых веществ (включая минералы), жидкостей, газов; фазовая диагностика включений в минералах (твёрдые, газовые, жидкие, газово-жидкие включения); оценки степени кристалличности вещества, структурного состояния; исследования изоморфизма и полиморфизма. Лазер - He-Ne (Pmax = 20 мВт, λ = 632.8 нм, красный цвет). Ахроматический спектрограф Черни-Тернера с фокальным расстоянием F=800 мм и оптическим разрешением 0.3 см-1. Решетки монохроматора - 600 и 1800 штр./мм. Диапазоны сканирования по длинам волн - 450-950 нм (с решёткой 1800 штр./мм). 450-2850 нм (с решёткой 600 штр./мм).
15	Установка для испытаний фрикционных свойств металлов Optimol Instruments Pruftechnik GmbH "SRV-III Test System"	Предназначена для проведения оценки фрикционных характеристик смазок и материалов. Основные схемы испытаний: диск - шар; диск - цилиндр; диск - кольцо; диск - палец. Вибрационный модуль: Нагрузка: 3 - 2000 N/200 кг, Частота: 1- 511 Гц, Амплитуда (ход): 0.1 - 5 мм, Температура: от комнатной до + 290°C (базовый), с охлаждением: от -35°C до +290° C, с нагревом: от комнатной до +900°C/+1650°F. Ротационный модуль: Нагрузка: 3 - 2000 N/200 кг. Скорость вращения: 0 - 2000 мин-1 (Vmax= 263 м/мин). Температура: от комнатной до +180°C. Радиус дорожки трения: 0 - 42 мм.
16	Установка для измерения вязкости расплавов (вискозиметр) ФТИ УрО РАН	Предназначена для измерения кинематической вязкости (температурные, концентрационные и временные зависимости) металлических расплавов методом затухающих крутильных колебаний. Интервал температур 50-17500С. Материал тигля - BeO, Al2O3, ZrO. Форма тигля - стакан. Объем образца - 3-3,5 см3. Характеристика образца: слиток. Атмосфера - гелий, вакуум 10-2 Па. Время одного измерения - 40 сек. Время измерения одной точки на политерме (с изотермической выдержкой) - 45-60 мин. Относительная погрешность измерений 2-4 %, для температурной зависимости -1,5-2%.
17	Автоматизированная система дифференциально-термического анализа ИФМ АН УССР "ВТА-983"	Предназначен для дифференциально-термического анализа для исследований фазовых превращений в материалах. Интервал температур 50 - 18000С. Материал тигля - BeO, Al2O3, ZrO. Форма тигля - стакан. Объем образца - 1,0 см3. Характеристика образца: слиток. Атмосфера - гелий, вакуум 10-2 Па.
18	Трубчатая печь с двумя зонами нагрева "SK2D-2-12ТРА2" с постом откачным высоковакуумным Edwards "T-Station 75D"	Предназначена для отжига образцов в вакуумных условиях и протоке инертных газов. Максимальная температура - 1100 °С. Скорости нагрева - от 1 до 20 град/мин. Предельно достижимый вакуум - 10-4 Па.

Кроме перечисленного выше оборудования в состав ЦКП входит научное и технологическое оборудование ассоциированных партнеров:

ООО "НПО "Защитные покрытия" (г. Москва):
1. Установка для нанесения покрытий методом осаждения из химических паров (CVD).
2. Установка для нанесения покрытий методом осаждения из химических паров (CVD) на внутренние поверхности труб.
3. Установка для нанесения покрытий методом осаждения из химических паров (CVD) на детали сложной формы.
4. Отрезной станок ПОЛИЛАБ Р30М600038.
5. Оптический эмиссионный спектрометр «SPECTRUMA GDA».

ОАО "Элеконд" (г. Сарапул):
1. Комплекс физико-химического анализа.
2. Испытательный комплекс.
3. Комплекс электрохимических и электрических измерений.

ФГБОУ ВО «Удмуртский государственный университет»:
1. Сканирующий электронный микроскоп FEI Inspect S50 с системой энергодисперсионного анализа EDAX.

В рамках проекта по ФЦП "Исследования и разработки по приоритетным направлениям развития научно-технологического комплекса России на 2014-2020 годы" в стадии поставки и приобретения находится следующее оборудование:
1. Сканирующий электронный микроскоп Termo Fisher Scientific (FEI) Quattro S (США) с электронной пушкой с полевой эмиссией, оснащен системой энергодисперсионного микроанализа на основе спектрометра Octane Elite Plus EDS System (EDAX, Нидерланды).
2. Программно-аппаратный комплекс для изучения рельефа поверхности и физико-химических характеристик объектов с нанометровым пространственным разрешением на основе сканирующего зондового микроскопа Ntegra SOLARIS (NT-MDT, Россия).

Виды проводимых исследований:

№	Вид исследования
1	Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия: качественный и количественный анализ химического состава сверхтонких слоев, исследование электронной структуры и межатомной химической связи, послойный анализ.
2	Оже-электронная спектроскопия: качественный и количественный анализ химического состава сверхтонких слоев и границ раздела, локального распределения элементного состава на микро и наноуровне.
3	Рентгеноструктурный и рентгенофазовый анализ.
4	Анализ параметров локальной атомной структуры сверхтонких (1-3 нм) поверхностных слоев вещества методом EELFS (метод протяженных тонких структур спектров энергетических потерь электронов).
5	Сканирующая зондовая микроскопия: исследование топографии, морфологии поверхности на наноразмерном уровне, исследование физико-химических свойств локальных областей и объектов наномасштаба.
6	Сверхвысоковакуумная сканирующая туннельная микроскопия: исследование топографии и физических свойств поверхности на атомарном уровне.
7	Растровая электронная микроскопия и микроанализ: исследование топографии, микроструктуры, локального распределения элементного состава на микро и наноуровне.
8	Дифференциальная сканирующая калориметрия: определение температур и теплот фазовых превращений и химических реакций, теплоемкости веществ при нагреве и охлаждении в широком интервале температур. Исследование кинетики процессов.
9	Исследование магнитных свойств материалов
10	ИК-спектроскопия: анализ атомного строения, внутримолекулярных и межмолекулярных взаимодействий в органических, неорганических, твердых, порошкообразных и жидких материалах.
11	УФ/Вид-спектроскопия: исследование содержания веществ в растворах, идентификация и определение структуры химических соединений.
12	Вискозиметрия: исследование кинематической вязкости металлических расплавов методом затухающих крутильных колебаний.0
13	Анализ содержания кислорода, азота и водорода в металлах методом восстановительного плавления, анализ содержания углерода методом сжигания в атмосфере водорода и кислорода.
14	Металлографические исследования: количественный и качественный анализ микроструктуры металлов и сплавов в отраженном свете.
15	Исследование механических свойств материалов: твердость, микротвердость, механические испытания на растяжение-сжатие, в т. числе в условиях сложного напряженно-деформированного состояния
16	Исследование вибрационной устойчивости, малоцикловой усталости, динамических и упругих свойств.