|
№ | Наименование единицы оборудования | Назначение и характеристики оборудования |
1 | Микроскоп электронный сканирующий Philips "SEM-515" с системой рентгеновского микроанализа EDAX "Genesis 200 XMS" | Предназначен для исследования топографии поверхности материалов, локального определения элементного состава, распределения элементов по поверхности объекта на микро- и наноуровне.
Ускоряющее напряжение - 3-30 кВ. |
2 | Дифрактометр рентгеновский НПО "Буревестник" "ДРОН-6" | Предназначен для качественного и количественное определения фазового состава кристаллических твердых тел, определения типа кристаллической структуры, идентификация вещества по его кристаллическим характеристикам, определения дисперсности кристаллитов, блочного строения, установления степени совершенства кристаллической структуры, дефектности, определения макро- и микродеформаций в материале, исследования аморфных материалов с возможностью установления функции радиального распределения атомного окружения (ФРРА). Имеется пакет программ для обработки дифрактограмм поликристаллов (МИСиС).
Метод съёмки - Брэгг-Брентано. |
3 | Оже - электронный спектрометр JEOL "JAMP-10S" | Предназначен для качественного и количественного анализа состава сверхтонких поверхностных слоев и межфазных границ, сверхтонких наноразмерных пленок, наноразмерных частиц, мультислоев. Позволяет проводить исследование топографии поверхности с развитой структурой на наноразмерном уровне в режиме растровой электронной микроскопии.
Достигаемый рабочий вакуум - 10-7 Па. |
4 | Рентгеноэлектронный спектрометр ЭЗАН "ЭС-2401" | Предназначен для проведения качественного и количественного анализа сверхтонких поверхностных слоев вещества и тонких пленок, исследование электронной структуры и химической связи, послойный анализ распределения элементов.
Достигаемый рабочий вакуум - 10-8 Па |
5 | Сканирующий зондовый микроскоп NT-MDT "Solver-Pro" | Универсальный прибор для комплексных исследований различных объектов с высоким разрешением на воздухе, в жидкостях и контролируемой газовой атмосфере, при температуре до 150 С. Конструкция прибора гарантирует максимальную точность измерений и большое число СЗМ измерительных методик. Используется для нанотехнологических исследований в самых разных научных областях. Обеспечивает получение изображений поверхности микро- и нано- объектов с пространственным разрешением вплоть до атомарного.
Размер образца - 40х40х10мм. |
6 | Спектрометрический комплекс на базе монохроматора ОКБ "Спектр" "МДР-41" c монохроматором ЛМ |
Предназначен для регистрации спектральных характеристик источников излучения, фотоприемников, для измерения спектров пропускания, зеркального и диффузного рассеяния, возбуждения и регистрации спектров люминесценции.
Спектральный диапазон - от 200 до 2500 нм. |
7 | Электронный спектрометр SPECS | Предназначен для изучения электронной структуры, химического состава и химических связей сверхтонких поверхностных слоев и тонких пленок, наноструктур, порошков с послойным анализом.
Достигаемый рабочий вакуум - 5∙10-10 Па. |
8 | Дифрактометр рентгеновский Rigaku "Miniflex 600" | Настольный рентгеновский дифрактометр предназначен для исследования строения поликристаллических и аморфных материалов. Позволяет проводить качественный и количественный анализ кристаллических фаз, определение размеров кристаллитов, анализ микронапряжений, определение параметров решеток, исследование атомного строения вещества.
Метод съёмки - Брэгг-Брентано. |
9 | Спектрометр ядерного гамма-резонанса SM2201DR | Предназначен для исследования в традиционных схемах мессбауэровской гамма-оптики: пропускания, эмиссии и обратного рассеяния, позволяет проводить эксперименты по селективно-индуцированному двойному эффекту Мессбауэра и релеевскому рассеянию резонансного излучения.
Диапазон скоростей - ± 20 мм/с. |
10 | Сканирующий ICP спектрометр Spectro Analytical Instruments GmbH "Spectroflame Modula S" |
Обеспечивает возможность высокоточного определения химического состава металлов, сплавов, воды, продуктов питания, промышленных изделий, почв и др. на содержание 76 элементов периодической таблицы Менделеева, включая тяжелые металлы.
Объект исследования - образцы, которые можно перевести в раствор и застабилизировать в жидкой фазе. |
11 | Комплект рентгеноэлектронного спектрометра ФТИ УрО РАН "ЭМС-3" |
Предназначен для изучения электронной структуры и химического строения сверхтонких поверхностных слоев, релаксационных процессов в высокотемпературных расплавах.
Относительное энергетическое разрешение спектрометра - 10-4. |
12 | Двухлучевой атомно-абсорбционный спектрофотометр Shimadzu "AA-7000" |
Атомно-абсорбционный спектрометр высокого класса для пламенного и электротермического атомно-абсорбционного анализа, позволяющий проводить высокочувствительные анализы и отличающийся компактностью, гибкой конфигурацией, полной безопасностью в работе и удобным управлением.
Атомизаторы - пламенный и/или электротермический. Спектральный диапазон - 185 - 900 нм.
Спектрометры SHIMADZU имеют Государственный Метрологический Сертификат РФ. |
13 | Дифрактометр Bruker ASX "D2 Phazer Theta" |
Настольный рентгеновский дифрактометр предназначен для исследования строения поликристаллических и аморфных материалов. Позволяет проводить качественный и количественный анализ кристаллических фаз, определение размеров кристаллитов, анализ микронапряжений, определение параметров решеток, исследование атомного строения вещества.
Метод съёмки - Брэгг-Брентано. Лицензионный пакет программ DIFFRAC.EVA, лицензионные структурные базы данных PDF2 (2020 г.). |
14 | Рамановский спектрометр Horiba "Jobin Yvon HR 800" |
Предназначен для идентификации твёрдых веществ (включая минералы), жидкостей, газов; фазовая диагностика включений в минералах (твёрдые, газовые, жидкие, газово-жидкие включения); оценки степени кристалличности вещества, структурного состояния; исследования изоморфизма и полиморфизма.
Лазер - He-Ne (Pmax = 20 мВт, λ = 632.8 нм, красный цвет). |
15 | Установка для испытаний фрикционных свойств металлов Optimol Instruments Pruftechnik GmbH "SRV-III Test System" | Предназначена для проведения оценки фрикционных характеристик смазок и материалов. Основные схемы испытаний: диск - шар; диск - цилиндр; диск - кольцо; диск - палец.
Вибрационный модуль: |
16 | Установка для измерения вязкости расплавов (вискозиметр) ФТИ УрО РАН | Предназначена для измерения кинематической вязкости (температурные, концентрационные и временные зависимости) металлических расплавов методом затухающих крутильных колебаний.
Интервал температур 50-17500С. |
17 | Автоматизированная система дифференциально-термического анализа ИФМ АН УССР "ВТА-983" |
Предназначен для дифференциально-термического анализа для исследований фазовых превращений в материалах.
Интервал температур 50 - 18000С. |
18 | Трубчатая печь с двумя зонами нагрева "SK2D-2-12ТРА2" с постом откачным высоковакуумным Edwards "T-Station 75D" | Предназначена для отжига образцов в вакуумных условиях и протоке инертных газов.
Максимальная температура - 1100 °С. |
Кроме перечисленного выше оборудования в состав ЦКП входит научное и технологическое оборудование ассоциированных партнеров:
ООО "НПО "Защитные покрытия" (г. Москва):
1. Установка для нанесения покрытий методом осаждения из химических паров (CVD).
2. Установка для нанесения покрытий методом осаждения из химических паров (CVD) на внутренние поверхности труб.
3. Установка для нанесения покрытий методом осаждения из химических паров (CVD) на детали сложной формы.
4. Отрезной станок ПОЛИЛАБ Р30М600038.
5. Оптический эмиссионный спектрометр «SPECTRUMA GDA».
ОАО "Элеконд" (г. Сарапул):
1. Комплекс физико-химического анализа.
2. Испытательный комплекс.
3. Комплекс электрохимических и электрических измерений.
ФГБОУ ВО «Удмуртский государственный университет»:
1. Сканирующий электронный микроскоп FEI Inspect S50 с системой энергодисперсионного анализа EDAX.
В рамках проекта по ФЦП "Исследования и разработки по приоритетным направлениям развития научно-технологического комплекса России на 2014-2020 годы" в стадии поставки и приобретения находится следующее оборудование:
1. Сканирующий электронный микроскоп Termo Fisher Scientific (FEI) Quattro S (США) с электронной пушкой с полевой эмиссией, оснащен системой энергодисперсионного микроанализа на основе спектрометра Octane Elite Plus EDS System (EDAX, Нидерланды).
2. Программно-аппаратный комплекс для изучения рельефа поверхности и физико-химических характеристик объектов с нанометровым пространственным разрешением на основе сканирующего зондового микроскопа Ntegra SOLARIS (NT-MDT, Россия).
Виды проводимых исследований:
№ | Вид исследования |
1 | Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия: качественный и количественный анализ химического состава сверхтонких слоев, исследование электронной структуры и межатомной химической связи, послойный анализ. |
2 | Оже-электронная спектроскопия: качественный и количественный анализ химического состава сверхтонких слоев и границ раздела, локального распределения элементного состава на микро и наноуровне. |
3 | Рентгеноструктурный и рентгенофазовый анализ. |
4 | Анализ параметров локальной атомной структуры сверхтонких (1-3 нм) поверхностных слоев вещества методом EELFS (метод протяженных тонких структур спектров энергетических потерь электронов). |
5 | Сканирующая зондовая микроскопия: исследование топографии, морфологии поверхности на наноразмерном уровне, исследование физико-химических свойств локальных областей и объектов наномасштаба. |
6 | Сверхвысоковакуумная сканирующая туннельная микроскопия: исследование топографии и физических свойств поверхности на атомарном уровне. |
7 | Растровая электронная микроскопия и микроанализ: исследование топографии, микроструктуры, локального распределения элементного состава на микро и наноуровне. |
8 | Дифференциальная сканирующая калориметрия: определение температур и теплот фазовых превращений и химических реакций, теплоемкости веществ при нагреве и охлаждении в широком интервале температур. Исследование кинетики процессов. |
9 | Исследование магнитных свойств материалов |
10 | ИК-спектроскопия: анализ атомного строения, внутримолекулярных и межмолекулярных взаимодействий в органических, неорганических, твердых, порошкообразных и жидких материалах. |
11 | УФ/Вид-спектроскопия: исследование содержания веществ в растворах, идентификация и определение структуры химических соединений. |
12 | Вискозиметрия: исследование кинематической вязкости металлических расплавов методом затухающих крутильных колебаний.0 |
13 | Анализ содержания кислорода, азота и водорода в металлах методом восстановительного плавления, анализ содержания углерода методом сжигания в атмосфере водорода и кислорода. |
14 | Металлографические исследования: количественный и качественный анализ микроструктуры металлов и сплавов в отраженном свете. |
15 | Исследование механических свойств материалов: твердость, микротвердость, механические испытания на растяжение-сжатие, в т. числе в условиях сложного напряженно-деформированного состояния |
16 | Исследование вибрационной устойчивости, малоцикловой усталости, динамических и упругих свойств. |